本篇文章簡單敘述了鹽霧在自然界中的構(gòu)成以及對電子產(chǎn)品的影響，并比較了電子產(chǎn)品、設(shè)備、部件和材料的鹽霧試驗參數(shù)。根據(jù)鹽霧試驗箱的應(yīng)用范圍，通過對部件、材料、元器件和整機的逐步檢查，對提高并評價電子產(chǎn)品長期耐鹽霧性能的研究方法進行了簡單的介紹。

　　在大氣中，由含鹽微小液滴所構(gòu)成的彌散系統(tǒng)指的就是鹽霧，根據(jù)相關(guān)統(tǒng)計，在各種飛機的現(xiàn)場故障中，大約50%是由環(huán)境造成的。其中，溫度占40%，振動占27%，濕熱占19%，沙塵占5%，鹽霧占4%。可以看出，鹽霧在近20個環(huán)境因素中排名第五，是一個不容忽視的破壞性因素。

 

　　近年來，科學(xué)家開始使用鹽霧試驗箱，研究了鹽霧對集成電路、雷達天線罩等產(chǎn)品的影響。結(jié)果表明，由于電化學(xué)反應(yīng)，集成電路會產(chǎn)生腐蝕性物質(zhì)，破壞電路的表面和性能。同時，它與材料和密封性有一定的關(guān)系。當(dāng)包裝氣密性好時，只有導(dǎo)線受到塑料包裝和玻璃包裝腐蝕的影響，而陶瓷包裝受到腐蝕的影響很大。鹽霧顯著增加了天線罩對雷達波的反射。形成的閃的花瓣會引起虛擬警報，減少蓋壁的透射，形成雷達盲區(qū)。

 

　　目前，鹽霧試驗箱可以開展的鹽霧測試方法多種多樣，根據(jù)不同的應(yīng)用范圍。一般可分為設(shè)備級、元件級和材料級，研究數(shù)據(jù)表明，每個標(biāo)準(zhǔn)鹽霧的參數(shù)范圍是一致的，但由于應(yīng)用范圍不同，測試方法也不同。有連續(xù)噴霧、鹽霧與干燥交替、鹽霧與濕熱交替等。至此，我們了解到鹽霧環(huán)境對于集成電路所造成的危害，鹽霧試驗箱現(xiàn)已成為各大行業(yè)常用的鹽霧檢測儀器，有需要的客戶歡迎聯(lián)系我司進行購買。